內(nèi)存芯片的兩種測量方法

一、用萬用表測量內(nèi)存芯片的方法

在主板與內(nèi)存的數(shù)據(jù)引腳是64個，D0-D63，為了保護(hù)內(nèi)存的數(shù)據(jù)位腳，在D0-D63這64個數(shù)據(jù)位腳都加有一個阻值不大的電阻起限流作用。而測試儀主要的原理是用程序重復(fù)測試內(nèi)存芯片的每個數(shù)據(jù)位引腳，看有沒有擊穿或短路的數(shù)據(jù)位引腳，還有就是芯片的時鐘引腳、地址引腳。所以用萬用表測試芯片時也可用測試儀的方法來測，只要紅筆對地，黑筆測量排陰阻的阻值，就是內(nèi)存芯片數(shù)據(jù)位的阻值來判斷是哪個芯片壞了，正常的話每個數(shù)據(jù)位阻值相同。但還是沒有測試儀那么直觀，用這種方法可測量DDR內(nèi)存芯片的好壞。

二、 用測試儀測量內(nèi)存芯片方法

根據(jù)使用說明書，測量的內(nèi)存在2A、2B這里，指單組和雙組的意思。但16位的芯片有8個，也相當(dāng)于是兩組，8位的芯片有16個也相當(dāng)于兩組。

2A為第二組，2B為第一組。

測量時會循環(huán)測試每一組中的每一個芯片的數(shù)據(jù)位腳。一般測了3次—5次沒壞就是好的。好的芯片為：PA 。壞的芯片就顯示出壞的數(shù)據(jù)位引腳。

1、 開機(jī)跳不進(jìn)測試，一般有：芯片短路、PCB板短路。解決方法為把芯片拆下來換到好的PCB板上試芯片好壞。

2、 內(nèi)存測試儀不測試 D芯片， D芯片可有可無

3、 金手指燒了的話也不能測試，必須把芯片拆下?lián)Q到好的PCB板上試芯片好